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深圳市恩陽電子有限公司

廠家供應/現貨批發/支持定制

深圳市恩陽電子有限公司是一家集X熒光光譜儀（RoHS檢測儀，膜厚測試儀）維修、鹵素升級、光譜儀買賣租賃及儀器數據校正為一體的綜合性服務企業。公司成立于2012年10月，坐落于深圳市松崗鎮。公司本著“客戶至上、高效快捷、誠信務實、價格合理”的經營合作理念,為您提供快速優質的技術服務。深圳恩陽電子有限公司由資深原各大儀器廠商技術專家和營銷精英組建，目前已經與眾多優秀的企業合作,致力打造X熒光光譜儀*質的服務平臺！深圳市恩陽電子供應二手天瑞儀器，二手Fisher儀器。XULM,EDX1800/EDX2800/EDX3000C型和EDX3000B型等設備，成色新，能應付公司工廠的ROHS品質篩選，并可長期/短期審廠租賃，能檢重金屬，鹵素，鍍層分析，玩具指令等。為你的生產保駕護航

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產品展示品質之選

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國產XRF糧食檢測儀品牌

產品型號：XR101S
華南地區高精度XRF元素分析儀

產品型號：HD E-max100
膜厚測試儀

產品型號：XTU-BL
色散X射線熒光光譜儀

產品型號：EDX1800B
快速篩查糧食重金屬分析儀器

產品型號：XR101
國產XRF光譜儀 X射線膜厚儀

產品型號：UX-100
油等樣品中的硫、氯、硅、磷的快速分析

產品型號：E-lite500
能量色散X熒光光譜儀XD-1000全自動膜厚儀

產品型號：XD-1000（0.2&0.1）

TECHNICAL ARTICLES

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石油氯測試儀支持快速測試，具體過程如下2025-9-22

石油氯測試儀支持快速測試，其具體過程如下：1.樣品準備與進樣：該儀器測試范圍廣、適應性強，可應用于液體、固體、氣體樣品中氯的測試。用戶只需取少量樣本，每次僅需10微升，即可滿足檢測需求。對于非液態樣品，可通過選購配套的固體或氣體進樣器進行預處理和導入。2.石油氯測試儀自動化反應與信號采集：采用氧化法并依據法拉第定律，儀器自動啟動測試流程。內置微處理器實時校準數據，智能算法加速分析過程，自動剔除異常波動值，確保結果可靠性的同時減少人工干預環節。3.即時結果顯示與預警：配備可視化...

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深入了解晶圓測試設備的測試方式與技術2025-9-22

晶圓測試設備的基本功能是驗證晶圓上各個芯片的功能和性能。它可以檢測出生產過程中可能出現的缺陷或錯誤，并及時排除不合格芯片，避免不合格芯片進入下一階段的封裝與出貨，減少生產成本和不良品率。晶圓測試的關鍵任務是確保電氣參數、功能特性和其他相關指標符合設計要求。晶圓測試方式主要可以分為以下幾種：1、電氣測試電氣測試是晶圓測試中基本也是常見的測試方式之一。電氣測試包括靜態測試（DC測試）和動態測試（AC測試）。通過這些測試，工程師可以確認芯片電路在靜態和動態條件下的電氣性能。DC測試...

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食用油P含量測試儀的完整工作流程2025-9-18

食用油P含量測試儀是一種專門用于檢測油脂中磷元素含量的精密儀器，其工作流程融合了自動化控制、化學分析和光譜檢測技術。以下是該設備的完整工作流程解析：1.樣品預處理階段儀器啟動后進入待機狀態，操作人員需先將待測食用油樣本注入專用比色皿或反應池中。部分高*機型支持自動進樣功能，通過機械臂精準移取定量油樣至檢測區域。為消除顏色干擾和基質效應，系統會自動添加特定的脫色劑與掩蔽劑——這些試劑能有效分解樣品中的色素成分，同時穩定溶液環境以確保后續反應的準確性。在此過程中，內置磁力攪拌裝置...

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高精度XRF元素分析儀使用前的測試運行2025-9-15

高精度XRF元素分析儀使用前的測試運行是確保測量準確性和設備穩定性的關鍵步驟，具體流程如下：1.儀器初始化與預熱通電啟動：按照操作手冊連接電源并開啟設備，此時需等待系統完成自檢程序，確認各模塊（如X射線管、探測器、冷卻系統）正常運行。部分機型可能需要額外加熱元件以達到穩定工作溫度。參數設置優化：根據待測樣品的特性選擇合適的測量模式，調整屏幕亮度、音量等基礎設置，同時驗證激發電壓、電流等關鍵參數是否符合當前實驗需求。2.高精度XRF元素分析儀校準驗證與性能確認標準樣品校準：選用...

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單波長X射線熒光光譜儀常見故障的處理方式2025-9-12

以下是單波長X射線熒光光譜儀常見故障的處理方式：1.X光管頻繁自動關掉故障現象：設備運行過程中，X光管出現頻繁自動關閉的情況。原因分析：通常是由于X光管發生器溫度過高導致的保護性關機。處理方法：清理或更換X光管發生器的排風扇，增強散熱效果，確保其在正常工作溫度范圍內運行。2.熒光不自檢、不聯機、不復位故障現象：儀器無法進行自檢，不能與計算機聯機，也無法完成復位操作，多次重新啟動仍無改善。處理方法：先卸真空，然后重新啟動計算機，此時熒光自檢、聯機、復位可能會恢復正常。若在抽真空...

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X射線膜厚儀具有非接觸測量的特性且測量速度快2025-9-8

X射線膜厚儀不僅具備非接觸測量的特性，還能實現極快的測量速度，為生產效率和質量控制帶來了提升。一、X射線膜厚儀工作原理基于物理穿透效應利用的是X射線對不同材料的穿透能力差異這一特性來進行測量。當一束單色化的X射線照射到待測樣品表面時，部分光線會被吸收或散射，其余則穿過薄膜到達探測器。通過分析透過后的X射線強度變化，結合已知的材料密度和其他參數，即可計算出薄膜的實際厚度。這種方法不依賴于樣品的具體形狀或尺寸，適用于各種復雜幾何結構的工件檢測。二、非接觸式測量保護樣本完整性與傳統...

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